Стенд контроля

[AAV]

Думаю, что вычитание ошибок эталона имеет смысл делать только в случае усреднения большого числа ИГ, что DFTF, в отличие от WinFringe может легко выполнить.

Вычитание эталона нужно делать при большой стабильности результатов обсчета кадров. Если есть большой разброс это будет некорректный обсчет, нет уверенности получения достаточно достоверного результата. В WinFringe обсчитывается каждый кадр и смотрится стабильность полученных интерферограмм и ошибок на интерферограмме. Исключить влияние тепловых потоков. Потом можно вычитать эталон. Смысл вычитать эталон если разброс кадров превышает погрешность эталона.
Оптика  Л/10 и контрольная оптика, это оптика без зональных ошибок. При такой точности идет аттестация отличия локальных ошибок от ошибок вносимых тепловыми потоками.
Ни какой интуиции, доверие стабильности контроля. Не подгонка результатов.

[Skyangel]

Например, хотите гарантировать точность в Л/8 - делайте эталон с точностью Л/16.

Незнаю, что вы имеете ввиду - поверхности скорее всего. Эталон с ошибкой 0.1 волнового, который вы наверняка сможете сделать, позволяет контролировать ошибки поверхности в 0.05. Покажите мне деталь любительского телескопа с такими ошибками.

[Skyangel]

Да, вот еще что. Хотя бы в этой теме, при написании ответа, не копируйте весь текст сообщения на который отвечаете. Есть же возможность - "цитировать выделенное". Просьба ко всем, кто отвечает.

[AAV]

По-видимому, самым надёжным выходом будет загодя делать ошибки Эталона в 2х меньше желаемой точности своего интерферометра. Например, хотите гарантировать точность в Л/8 - делайте эталон с точностью Л/16.

Для изготовления контрольной плоскости Л/10 нужна контрольная плоскость Л/20. Для изготовления контрольной плоскости Л/20 нужна контрольная плоскость Л/40. И так далее, нет достоверно аттестованной контрольной оптики.
Ростест устроил изготовленный клин 320мм для интерферометра Физо Л/10 волнового фронта(Л/20 поверхности).
Под какую оптику аттестовываете(или аттестовывали на работе) свою контрольную оптику?

[Skyangel]

Напечатали оправы для 200мм интерферометра контроля плоскостей.
Немытый и почти чистый эталон (устал удалять следы от пальцев), объектив с асферикой 0.13мм

[Gleb1964]

Наблюдаю со стороны обсуждение, где каждый друг друга не понимает. Забавно то, что неужели я один понимаю каждого из участников, и понимаю, почему он не понимает другого?

Ну, то, что Владимир Ильич не нарисовал схемы установки усложняет дело (я в отпуске и рисовать на телефоне схему не берусь).

Короче, у Владимира Ильича измерение прогибов, это дифференциальные измерения, разгрузил деталь по одному способу, потом по другому, сравнил два профиля.
Точность "эталона" здесь любая, без разницы. Это должно быть понятно? Если не понятно, то плохо дело.

Никаких "тепловых  потоков" у Владимира Ильича нет и быть не может. Кто наблюдал тепловые потоки в зазоре между пробными стеклами??? Опять же, схема не нарисована, поэтому обсуждение идет мимо.

Поэтому как Владимир Ильич мерял прогибы, вычитание одного профиля из другого имеет смысл и это вообще единственный правильный метод, как делать такие измерения (дифференциальные измерения).

А в случае, как AVV меряет оптические детали в неравноплечем интерферометре, с большим ходом в плечах, где термальные потоки дают наибольшую ошибку, да относительно эталона, который в разы точнее измеряемой детали, вычитание эталона не имеет практического смысла, никто это не делает, да и незачем.

А по поводу "мельчания" зазора под углом, так это давно известная истина, величина разности оптического хода в зазоре уменьшается соразмерно косинусу угла луча с нормалью, это касается любых интерферометров. При контактном наложении деталей друг на друга нужно об этом помнить.

Ещё добавлю.  При измерении в автоколлимации от плоского эталона важны только местные ошибки эталона, эталон может иметь много-премного волн кривизны, это не имеет значения. Поэтому нужно понимать, что значит то же самое PV эталона, если это остаточная кривизна, то начихать и забыть. Только местные зоны и неровности имеет смысл учитывать.

[Skyangel]

Только местные зоны и неровности имеет смысл учитывать.

Глеб, спасибо огромное что отвечайте. Про учет по зонам AAV выше писал.

[Skyangel]

Точность "эталона" здесь любая, без разницы. Это должно быть понятно?

Это понятно конечно же.

[AAV]

Наблюдаю со стороны обсуждение, где каждый друг друга не понимает. Забавно то, что неужели я один понимаю каждого из участников, и понимаю, почему он не понимает другого?



Короче, у Владимира Ильича измерение прогибов, это дифференциальные измерения, разгрузил деталь по одному способу, потом по другому, сравнил два профиля.
Точность "эталона" здесь любая, без разницы. Это должно быть понятно? Если не понятно, то плохо дело.

Никаких "тепловых  потоков" у Владимира Ильича нет и быть не может. Кто наблюдал тепловые потоки в зазоре между пробными стеклами??? Опять же, схема не нарисована, поэтому обсуждение идет мимо.

Поэтому как Владимир Ильич мерял прогибы, вычитание одного профиля из другого имеет смысл и это вообще единственный правильный метод, как делать такие измерения (дифференциальные измерения).

Насчет Владимира Ильича понимаем, способом сравнения можно проверять прогибы. Для этого можно вычитать один профиль из другого, для этого нужно добиться разгрузил детали при которой будет повторяемость(контрольный волновой фронт).
Нет этого при аттестации контрольного волнового фронта, выбирает произвольные кадры. Это из за прогибов эталона и образца, так же возможных потоков натриваевой лампы( по фото отчета лечит рядом с образцом и эталоном) та же потоков при фотографировании от фотографирующего. Точность эталона не повлияет на сравнение, точность обсчета интерферограмм на таких искажениях будет до Л/10 волнового фронта.
Из отчета.

Из обработанных серий выбиралась серия ИГ, со СКО, наиболее близким к расчётному значению, полученному в программе ПроМир.

Нет повторяемости как при аттестации контрольного волнового фронта, так и при измерение прогибов. Вычитание дает разные результаты. Повторяемость должна быть лучше чем при контроле а в автоколлимационной схеме.
Нужно сделать стенд который не подвержен влияний прогибов и тепловых потоков. С вычетанием или нет прогибы при постоянных стабильных результатах будут видны, по обсчету интерферограмм.
Владимиру Ильичу не навязываем измерение без вычитаний, как он нам с вычитанием. Был задан вопрос какое отношение измерений прогибов имеет отношению к нашим контролям. Ответ, нет надо делать как я, вычитать. 
 Стабильности интерферограмм нужно добиваться при поведении эксперимента, только исключить все факторы влияющие на стабильность измерений.

[AAV]

Ещё добавлю.  При измерении в автоколлимации от плоского эталона важны только местные ошибки эталона, эталон может иметь много-премного волн кривизны, это не имеет значения. Поэтому нужно понимать, что значит то же самое PV эталона, если это остаточная кривизна, то начихать и забыть. Только местные зоны и неровности имеет смысл учитывать.

Это все учитывается, тем более отклонение от плоскостности программа выдает 0,02 полосы волнового фронта.
От местных ошибок плоского зеркала в автоколлимационной схеме идет отражение один раз, от телескопа 2. При обсчете влияние контрольного зеркала меньше.

[yas]

Вычитание эталона нужно делать при большой стабильности результатов обсчета кадров. Если есть большой разброс это будет некорректный обсчет, нет уверенности получения достаточно достоверного результата. В WinFringe обсчитывается каждый кадр и смотрится стабильность полученных интерферограмм и ошибок на интерферограмме. Исключить влияние тепловых потоков. Потом можно вычитать эталон. Смысл вычитать эталон если разброс кадров превышает погрешность эталона.
Оптика  Л/10 и контрольная оптика, это оптика без зональных ошибок. При такой точности идет аттестация отличия локальных ошибок от ошибок вносимых тепловыми потоками.
Ни какой интуиции, доверие стабильности контроля. Не подгонка результатов.

Возможно, что ошибаюсь, но мне кажется, что усреднение многих ИГ, может усреднить ошибку из-за тепловых потоков и вибрации. Это чем то сродни BIAS и DARK кадров в астрофото. Сначала надо усреднить кадры, а потом вычитать.

[AAV]

Возможно, что ошибаюсь, но мне кажется, что усреднение многих ИГ, может усреднить ошибку из-за тепловых потоков и вибрации. Это чем то сродни BIAS и DARK кадров в астрофото. Сначала надо усреднить кадры, а потом вычитать.

Только какой разброс усреднять?
Усреднить тепловые потоки может и можно, только реальная ошибка на контролируемой детали какая? Разброс плюс/минус 0,01 полосы волнового фронта и направление ошибок совпадают, вопросов нет насчет усреднения. Если разброс 0,1 полосы волнового фронта и направление ошибок разное. Это важно при изготовлении деталей, тем более точных. Работать по усреднению или по реальным ошибкам. Убирать усредненную ошибку тепловых потоков и вибрации. Мы работаем по интерферограмме, обсчет интерферограммы справочный для нас. Буду работать при стабильном контроле полученных интерферограм. Так же и аттестация.

[ekvi]

При измерении в автоколлимации от плоского эталона важны только местные ошибки эталона, эталон может иметь много-премного волн кривизны, это не имеет значения. Поэтому нужно понимать, что значит то же самое PV эталона, если это остаточная кривизна, то начихать и забыть. Только местные зоны и неровности имеет смысл учитывать.

Основные параметры      PV = 0.096*Л
Местные деформаации   PV = 0.078*Л
- всмотритесь в Протокол: ПО представило сугубо собственные ошибки (= асферичность) Эталона.

И вопрос ставился в принципе.

[Gleb1964]

Исключить влияние тепловых потоков.

Вы снова смотрите на проблему с точки зрения интерферометра с разделенными каналами, где тепловые искажения в измерительном канале не совпадают с опорным.
Но есть часть оптического тракта с общим ходом лучей, где вносятся одинаковые ошибки и где требования к оптике очень свободные, порой даже никакие. Это, как раз, случай контроля  как у Владимира Ильича, там можно гриль поставить и шашлычки жарить на пути от источника. Общий ход. Не в общем ходе только микронный зазор между оптическими деталями, но где там взяться тепловым потокам?

[Gleb1964]

Как только свет разделился на светоделительной грани кубика и пошёл по разным ветвям интерферометра, дальше свет накапливает разницу хода между измерительным и опорным каналами. Любая ошибка хода, будь то ошибки оптических поверхностей, неоднородности показателей преломления сред, всё это добавляет ошибки в измерения. От температуры зависит показатель преломления воздуха и стекл. От тепловых потоков возникают ошибки хода, существенные, если речь идет о метрах хода в воздухе, как при измерении астрономических зеркал. Даже если нет тепловых потоков, из за гравитации всегда есть стратификация воздуха, внизу холоднее-плотнее, вверху теплее-разряженнее. Это неизбежно вызывает появление астигматизма при горизонтальных трассах контроля.
Наоборот, та часть хода лучей до разделения на светоделителе и после объединения, находится в общем ходе, ошибки разности хода там не накапливаются, измерительный и опорный каналы идут общим ходом. В общем ходе требования к оптике свободные, иногда вообще никакие.

[AAV]

Но есть часть оптического тракта с общим ходом лучей, где вносятся одинаковые ошибки и где требования к оптике очень свободные, порой даже никакие. Это, как раз, случай контроля  как у Владимира Ильича, там можно гриль поставить и шашлычки жарить на пути от источника. Общий ход. Не в общем ходе только микронный зазор между оптическими деталями, но где там взяться тепловым потокам?

Гриль стоит не общем ходе. С одной стороны эталона и образца, нагревать с одной стороны не будет эталон и образец?

Вопрос поставлен в  принципе о точности измерений. Нужно делать как советует ekvi?

И вопрос ставился в принципе.

В стабильной схеме где можно шашлыки жарить, разброс измерений по СКО. Не 0,01 СКО, если для аттестации выбираются наиболее близким к расчётному значению. По размаху PV волнового фронта сколько разброс? Почему в этой схеме нет стабильности измерений? Должна быть стабильность измерений, какие факторы не дают стабильности?
В схеме контроля где много факторов влияющих на точность измерений, добиваются стабильных измерений  по размаху PV 0,01 полосы волнового фронта. Эта погрешность будет влиять на СКО?  Может не надо добиваться стабильности, выбрать наибольшее устраивающие измерения? Уберем астигматизм, схема горизонтальная гнуть зеркало может. Может ещё что то вычитать можно, результат получить нужный надо? Зачем тогда вычитать небольшую погрешность которою может внести контрольное зеркало? 

[art-xrom]

Вычитание эталона нужно делать при большой стабильности результатов обсчета кадров. Если есть большой разброс это будет некорректный обсчет, нет уверенности получения достаточно достоверного результата. В WinFringe обсчитывается каждый кадр и смотрится стабильность полученных интерферограмм и ошибок на интерферограмме. Исключить влияние тепловых потоков. Потом можно вычитать эталон. Смысл вычитать эталон если разброс кадров превышает погрешность эталона.
Оптика  Л/10 и контрольная оптика, это оптика без зональных ошибок. При такой точности идет аттестация отличия локальных ошибок от ошибок вносимых тепловыми потоками.
Ни какой интуиции, доверие стабильности контроля. Не подгонка результатов.

Возможно, что ошибаюсь, но мне кажется, что усреднение многих ИГ, может усреднить ошибку из-за тепловых потоков и вибрации. Это чем то сродни BIAS и DARK кадров в астрофото. Сначала надо усреднить кадры, а потом вычитать.

Вы кстати вроде занимались проектом карт ошибок на эталоне и контролируемом изделии?

[yas]

Возможно, что ошибаюсь, но мне кажется, что усреднение многих ИГ, может усреднить ошибку из-за тепловых потоков и вибрации. Это чем то сродни BIAS и DARK кадров в астрофото. Сначала надо усреднить кадры, а потом вычитать.

Только какой разброс усреднять?
Усреднить тепловые потоки может и можно, только реальная ошибка на контролируемой детали какая? Разброс плюс/минус 0,01 полосы волнового фронта и направление ошибок совпадают, вопросов нет насчет усреднения. Если разброс 0,1 полосы волнового фронта и направление ошибок разное. Это важно при изготовлении деталей, тем более точных. Работать по усреднению или по реальным ошибкам. Убирать усредненную ошибку тепловых потоков и вибрации. Мы работаем по интерферограмме, обсчет интерферограммы справочный для нас. Буду работать при стабильном контроле полученных интерферограм. Так же и аттестация.

Работая с усреднением возникло ощущение, что последнее хорошо справляется, например, с астигматизмом, а вот на сферическую влияет слабо.

[Сергей Казаков]

    До начала комповой эпохи приходилось полы застилать поролоном . В помещении плюс минус 0,1 градуса . В шатре от пола до потолка тоже неболее десятки . Замер по одному кадру вместе и с комой и дефокусировкой .
 Ничего не усреднялось и  не отбрасывалось . Доказывать что-либо не приходилось , ибо дай интерферограмму в допуске , и точка .

[art-xrom]

При измерении в автоколлимации от плоского эталона важны только местные ошибки эталона, эталон может иметь много-премного волн кривизны, это не имеет значения. Поэтому нужно понимать, что значит то же самое PV эталона, если это остаточная кривизна, то начихать и забыть. Только местные зоны и неровности имеет смысл учитывать.

Основные параметры      PV = 0.096*Л
Местные деформаации   PV = 0.078*Л
- всмотритесь в Протокол: ПО представило сугубо собственные ошибки (= асферичность) Эталона.

И вопрос ставился в принципе.

мне кажется нужно делать независимый контроль в таком случае, другим интерферометром для подтверждения