ВНИМАНИЕ! На форуме началось голосование в конкурсе - астрофотография месяца - ИЮЛЬ!
0 Пользователей и 1 Гость просматривают эту тему.
Для изготовления контрольной плоскости Л/10 нужна контрольная плоскость Л/20. Для изготовления контрольной плоскости Л/20 нужна контрольная плоскость Л/40. И так далее, нет достоверно аттестованной контрольной оптики.
Цитата: AAV от 12 Июн 2025 [16:17:46]Для изготовления контрольной плоскости Л/10 нужна контрольная плоскость Л/20. Для изготовления контрольной плоскости Л/20 нужна контрольная плоскость Л/40. И так далее, нет достоверно аттестованной контрольной оптики. Осторожно предположу, что тут можно применить жидкостный эталон. С превеликими хлопотами, но всё же...
ну без 40% тут точно никак
Осторожно предположу, что тут можно применить
А разве zygo32"LAIS уже не доступен? Попробовать довести свой Эталон до уровня zygo32"LAIS, используя собственный волновой фронт на предыдущей стадии доводки.
Предел аттестации какой будет в лямбдах волнового фронта в реальных условиях
лучше было в схеме Коммана довести
На своей "кухне" я так бы и сделал
методика восстановления формы поверхностей асферических зеркал объектива посуммарным аберрациям волнового фронта,
изготовления такого световода, сходящегося на конус.Ничего сложного, травят в капле фтористого аммония.Но для контроля, что получилось и отработки режима нужен сканирующий электронный микроскоп
Используется без эталонный интерферометр с эталонной сферической волной сравнения. На основе волоконного источника сферической волны (ВИСВ)
Однако конструкция источника двух эталонных сферических волн требует для его встраивания в интерферометр последующей настройки и позиционирования относительно зеркала, перенаправляющего свет от исследуемого объекта на регистратор, а также применения двух прецизионных систем позиционирования, что увеличивает габаритные размеры источника и снижает надежность его работы. При этом конструкция источника такова, что как перед работой, так и в ходе работы требуется сложная настройка и проверка взаимного положения источников и других элементов интерферометра, что не позволяет использовать источник в интерферометрах, предназначенных для встраивания в качестве элемента в промышленное оптическое оборудование.
Однако эти интерферометры обладают рядом недостатков, сильно ограничивающих их широкое применение.