Стенд контроля

[ekvi]

У нас программа предоставляет возможность производить вычитание волновых фронтов.

То есть, если взять, например, Протокол контроля Ньютона Ф 400 мм, то на топо-карте представлена сугубо его собственная ошибка, после вычета волновой ошибки "эталона"?

[AAV]

У нас программа предоставляет возможность производить вычитание волновых фронтов.

То есть, если взять, например, Протокол контроля Ньютона Ф 400 мм, то на топо-карте представлена его собственная ошибка?

На такой точности и наличия зональных ошибок (на контрольном зеркале их нет),  смысла  нет производить вычитание.
Это делается на очень точных измерениях и при поворотах контролируемых  деталях ( исключить влияния тепловых потоков и других влияний). Выявить наличие несимметричных ошибок или влияния  тепловых потоков.
Так же как и аттестация контрольной оптики.

Вы как проводите аттестацию контрольной оптики и контроль под неё?
Дайте инструкцию по проверки и контролю.

[AAV]

Поэтому Ваш "эталон" с PV = 0.1*Л, как оптическая деталь, вполне пригодна для "аттестации" других деталей до точности Л/5.
Но у меня был вопрос не к "эталону".
В примерах, которые приведены по указанной ссылке, есть оптика с PV ~ 0.2*Л = Л/5, т.е. с точностью, сопоставимой с точностью Вашего "эталона". А в этих случаях естественно возникает желание узнать: Л/5 - это суммарная ошибка измерений или собственная ошибка контролируемой оптики? И если суммарная, то какова собственная?

То есть, если взять, например, Протокол контроля Ньютона Ф 400 мм, то на топо-карте представлена сугубо его собственная ошибка, после вычета волновой ошибки "эталона"?

Давайте разберемся как с оптиком-технологом что нужно вычитать. 
Имеем плоскость Л/10 волнового фронта (коэффициент 1) или Л/20 поверхности(коэффициент 2). Из них 0,02 волнового фронта отклонение от плоскостности.
Контролируем Ньютон в автоколлимационной схеме. Имеем 2 отражения от контролируемой оптике и одно от плоскости.
При обсчете интерферограммы ставим коэффициент 2 (два раза отражается от контролируемой оптики). Какой вклад вносит контрольное зеркало? Отклонение от плоскостности 0,02  не влияет на качество в автоколлимационной схеме. Забудем об этих 0,02. Вычитать что должны обсчет Л/10 волнового фронта или Л/20 поверхности зеркала? Если контрольное зеркало вносит ошибку 0,1 волнового фронта полосы в схеме контроля, её поделили на 2 при обсчете интерферограммы в автоколлимационной схеме. Нужно вычитать 0,1 волнового фронта или 0,05 волнового фронта?
При этом имеем разброс кадров при обсчете 0,02 волнового фронта. Это очень да же хорошо.
Как скажется вычитание на такой точности Ньютона сугубо его собственная ошибка.

[ekvi]

На такой точности и наличия зональных ошибок (на контрольном зеркале их нет),  смысла  нет производить вычитание.

Таким образом, ПО "предоставляет такую возможность" (вычитать аппаратную ошибку), но Вы этого не делаете по идейным соображениям.

Вы как проводите аттестацию контрольной оптики и контроль под неё?
Дайте инструкцию по проверки и контролю.

По принципу суперпозиции волновые ошибки в оптике алгебраически складываются. В интерферометре Баса, как утверждают его идеологи, собственные ошибки при возвратном ходе самокомпенсируются (обнуляются). А у Вас не Бас.

При доводке плоскости испытуемого Образца я использовал программу DFTF. Сначала снял ИГ Эталона, изготовил из неё контрольный волновой фронт (КВФ). При доводке плоской поверхности Образца я всякий раз из полученного волнового фронта вычитал КВФ эталона, позиционируя его параллельно направления воздушного "клина" и учитывая знаки.
Это - не инструкция, но в порядке дискуссии.

[Fidel]

//всякий раз из полученного волнового фронта вычитал КВФ эталона, позиционируя его параллельно направления воздушного "клина" и учитывая знаки.

И что дала проверка изделия альтернативным методом? Разница заметна? Есть смысл вычитать?

[Сергей Казаков]

  Пруфов нема - тока хлам теоретический .
 
  Господа ЛА из двух зеркал собирается телескоп , с волновым , как минимум не хуже чем от каждого из зеркал .
  Расстояние между зеркалами и их взаимная ориентация могут и вовсе дать практически идеальный волновой фронт.
  Ежели в чем сомневаетесь , тогда к Фиделю . Он Хороший Человек . Все разьяснит .
    А еще от Умнейшего Алексея Юдина - ежели Штрель выше 0,95 то остальное все по барабану .

[ekvi]

Разница заметна? Есть смысл вычитать?

Поскольку всё на пределе, то разница видна - см. отчёт https://disk.yandex.ru/i/HZdNNG9Jv8GcBQ

Расстояние между зеркалами и их взаимная ориентация могут и вовсе дать практически идеальный волновой фронт.
 

- вот об этой взаимо-компенсации в схеме (контролируемая оптика + эталонная плоскость) и шла речь.

[Сергей Казаков]

   Речь про сборку телескопа .
   Плоскость работает в одном ходе и берется на сборку  по возможности бОльшего диаметра .
   Большей точности по Госту только пробные стекла Первой категории . Ну , так они и диаметром в 130 мм , и делаются и контролируются в суперских условиях и принимаются только на следующий день .
   Разговор ни о чем . Сделать десяточную контрольную оптику уже достаточно сложно ,и пожалуй , предельнно . В основном препятствие от тепловых потоков.

[Skyangel]

Поскольку всё на пределе, то разница видна - см. отчёт

Посмотрел отчет. Если честно- не совсем понимаю, какое он имеет отношение к теме? Вы там погибы измеряете.    Вопрос же в другом - надо ли вычитать ошибки эталона из иг детали. Вы тогда уже приложите иг вашего эталона и иг детали и данные обсчета с вычетом ошибок вашего эталона и без.
В вашем отчёте вы ссылайтесь на комментарии Глеба. Думаю, вы не поняли о чем он говорит. Судя по всему он говорит о числе полос при наличии клина между эталоном и деталью. Не нашел его ответа, если есть ссылка - скиньте. Зачем тут что то корректировать?

[ekvi]

надо ли вычитать ошибки эталона из иг детали

Вопрос поставлен, вот и думайте!

[AAV]

Есть смысл вычитать?

Эталон (который обсуждается) может внести а автоколлимационной схеме искажение 0,04 волнового фронта на весь диаметр, тем более эталон берется большего диаметра чем контролируемый телескоп. Разброс кадров интерферограммы сопастовим c возможной внесенной ошибки. Тепловые потоки  больше влияния скажутся на результате, чем точность контрольного зеркала. Смысл производить вычет топографии плоского зеркала при точности 0,3 волнового фронта. При получении стабильности без разброса результатов интерферограмм, можно делать вычет, если есть желание. При аттестации телескопа 300-400мм разброс по кадром получается 100%?
Если "контрольная плоскость" с явными зональными и локальными ошибками, тогда вычет имеет смысл.

[AAV]

Поскольку всё на пределе, то разница видна - см. отчёт

Из отчета.

Расчёты показывают: ни Основание (чугунный гриб Ø 270 мм) с толщиной по краю 10 мм ни сам плоский Эталон, изготовленный из ЛК7 Ø 320 мм и толщиной 40 мм, при установке по краю на 3 точки, не обеспечивают точности в 30 нм (здесь и во всём Отчёте имеется в виду размах ошибки). И только анализ прогибов несущих узлов интерферометра и правильное их применение позволяет получить требуемую точность измерений.

В качестве источника использована натриевая лампа, излучающая дуплет на 540.1 нм. К сожалению, в программе DFTF-64 я не нашёл опции вычета «фокусности» плоскости, поэтому пришлось воспользоваться опцией программы DFTF-64 вычитания Контрольного волнового фронта (КВФ) из полученного для каждого случая волнового фронта сдеформирован
ного Образца. КВФ был получен путём доводки тыльной плоскости Образца.

О какой точности контрольного волнового фронта (КВФ), если аттестация этого фронта не обеспечивает точности. Каждая новая установка эталона и образца по разному, еще к этому наложится влияние тепловых потоков. Каждый раз волновой фронта сравнения будет разный. Какой КВФ выбрали, каждый раз получался одинаковый и все интерферограммы давали одинаковый результат? С какой точностью программа обсчитывает интерферограмму на таких полосах?
Эталон (изготовленный из ЛК7 Ø 320 мм и толщиной 40 мм)  по точности как образец или неизвестного качества?
Сделайте нормальную контрольную плоскость, исключите влияние тепловых потоков (натривая лампа и влияние потоков от экспериментатора), потом можно проводить эксперимент.

Это называете "контрольным волновым фронтом", с какой точностью можно проводить аттестацию на таком КВФ , да же с вычетом.

[AAV]

В вашем отчёте вы ссылайтесь на комментарии Глеба. Думаю, вы не поняли о чем он говорит. Судя по всему он говорит о числе полос при наличии клина между эталоном и деталью. Не нашел его ответа, если есть ссылка - скиньте. Зачем тут что то корректировать?

Из отчета.

На Астрофоруме Глеб (Gleb1964) обратил внимание на то, что, при рассматривании ( = фотографировании ) сквозь плоскопараллельную пластину (в данном случае – через Эталон) число полос в ИГ визуально от центра к краю уменьшается («глубина» зазора между поверхностью Образца и Эталона как бы «мельчает»).
Я провёл такой визуальный эксперимент: действительно, число полос уменьшается пропорционально косинусу угла, измеренного от нормали к Эталону.

В чем разница этих интерферограм плоскостей при клине по «глубина» зазора?
Почему «глубина» зазора между поверхностью Образца и Эталона как бы «мельчает»)?

[ekvi]

Это называете "контрольным волновым фронтом", с какой точностью можно проводить аттестацию на таком КВФ , да же с вычетом.

Вопрос поставлен, думайте!

[AAV]

Это называете "контрольным волновым фронтом", с какой точностью можно проводить аттестацию на таком КВФ , да же с вычетом.

Вопрос поставлен, думайте!

Вам думать нужно, если проводите эксперимент. Тем более при такой как у вас  аттестации контрольного волнового фронта.
Больше практики, не только теоретические книжные знания.

[Skyangel]

Вопрос поставлен, думайте!

Ну а что тут думать? Ошибки на  деталях, что приходилось контролировать в разы превышали ошибки эталона.
Я вас прошу еще раз - опубликуйте иг вашего эталона и иг детали в схеме с этим эталоном. После посчитайте в ваших программах влияние эталона на результат.

[AAV]

Нет там эталона, есть интерферограмма сложение образца и так называемого "эталона", это есть  так называемый  "контрольный волновой фронт".
При эксперименте нужен хороший эталон и образец. Образец проверен на разгрузках, потом сравнивать прогибы на разных количествах точек. Не нужно никаких вычитаний, нужно сделать стенд который не подвержен влияний прогибов и тепловых потоков на эталоне. Тогда можно рассуждать о точности эксперимента.

Из отчета.

Затем в программе DFTF-64 производился обсчёт ИГ на минимум значения «Wavefront RMS at 555 nm», после чего картина волнового фронта от ИГ поворачивалась в своей плоскости на некоторый угол для совмещения максимумов на текущем волновом фронте и на КВФ. Из полученного таким образом волнового фронта вычитался КВФ.  При обработке ИГ как от срединной сферы PV выдаётся программой DFTF64 в явном виде.

Какие повороты? Интерферограмма должна фотографироваться в о дном положении образца и эталона, в котором получился КВФ. Вычитаться КВФ должен в положении котором фотографировался и и образец на опорах относительно эталона должен быть в то же положении относительно эталона.

Из отчета

Из обработанных серий выбиралась серия ИГ, со СКО, наиболее близким к расчётному значению, полученному в программе ПроМир. 

Эксперимент, подгонка на подгонки и подгонкой погоняет.

При этом ведет рассуждение  о контроле с вычетом  интерферограммы контрольной плоскости, при контроле качества телескопов. При котором влияние тепловых потоков превышают качество плоскости. 

[ekvi]

Ну а что тут думать? Ошибки на  деталях, что приходилось контролировать в разы превышали ошибки эталона.
Я вас прошу

В моём эксперименте суммарная ошибка превышала в 2х ошибку искомого прогиба Образца. Например, суммарная ошибка = 300 нм, а КВФ имел 200 нм. После вычитания прогиб = 100 нм.

Можно добавить ко всему вышесказанному следующее.
Из самой идеи (вычитание КВФ из суммарного) можно сделать вывод о безразличии к точности эталона. Но это обманчивый соблазн!
На самом деле при большой ошибке эталона и суммарная ошибка становится большой, а после вычитания может оказаться и так, что ошибка испытуемой оптики получится отрицательной величиной - ?!

По-видимому, самым надёжным выходом будет загодя делать ошибки Эталона в 2х меньше желаемой точности своего интерферометра. Например, хотите гарантировать точность в Л/8 - делайте эталон с точностью Л/16.

[yas]

Эталон (который обсуждается) может внести а автоколлимационной схеме искажение 0,04 волнового фронта на весь диаметр, тем более эталон берется большего диаметра чем контролируемый телескоп. Разброс кадров интерферограммы сопастовим c возможной внесенной ошибки. Тепловые потоки  больше влияния скажутся на результате, чем точность контрольного зеркала. Смысл производить вычет топографии плоского зеркала при точности 0,3 волнового фронта. При получении стабильности без разброса результатов интерферограмм, можно делать вычет, если есть желание. При аттестации телескопа 300-400мм разброс по кадром получается 100%?
Если "контрольная плоскость" с явными зональными и локальными ошибками, тогда вычет имеет смысл.

Думаю, что вычитание ошибок эталона имеет смысл делать только в случае усреднения большого числа ИГ, что DFTF, в отличие от WinFringe может легко выполнить.

[ekvi]

Думаю, что вычитание ошибок эталона имеет смысл делать только в случае усреднения большого числа ИГ

Разумеется: когда при измерениях вы уверены, что получили достаточно достоверный результат. Кому-то для уверенности достаточно интуиции, а для кого - изобилие экспериментальных данных.