ВНИМАНИЕ! На форуме началось голосование в конкурсе - астрофотография месяца МАРТ!
0 Пользователей и 1 Гость просматривают эту тему.
Это и есть признак огромной сферички. С другой стороны фокуса вместо колец - "пух".
Скорее всего это связано с тем, что от объекта на объектив попадает сферическая волна, а не плоская как при тестировании оптики телескопа. Поэтому для микроскопа не проходят представления о "зафокалах-предфокалах", которые используются для оптики работающей с плоской волной (телескопы в нашем случае).
Я не знаю почему понятия о "внефокалах" не подходят к микроскопам.
1-й ролик (2.34Гб) - источник одномодовое волокно 9мкм.
А когда мы этих колец наблюдаем 100500, да ещё и внешние ярче внутренних, это самая что ни на есть "безудержная" сфера))
Светится там не только 9-микронное ядро, но и его оболочка. Просто с другой интенсивностью.
для микроскопа не проходят представления о "зафокалах-предфокалах", которые используются для оптики работающей с плоской волной
Картинка полностью несимметрична относительно точки фокуса т.е. расфокусированное изображение имеет набор колец только с одной стороны от фокуса.С другой колец вообще не наблюдается.
9-ти микронное волокно является одномодовым для 1400..1600нм, в видимом диапазоне лазеры с одномодовым волокном имеют волокно с центральной модой пару микрон поперечником, например для 633-780нм мода 3.6-5.3 микрона. Т.е. в видимом диапазоне 9-микронное волокно многомодовое (хоть и называется одномодовым, но для другой волны).
А вот это уже явный признак существенной сферички.
Вряд ли 40х объектив настолько плохой, что создает изображение точки больше диф предела 20х объектива. Тем более, что исходная точка даже меньше, чем я предполагал.Для простой схемы 20х объектива отсутствие покровного стекла чуть добавляет сверички, но не так сильно. Увеличивается интенсивность 1-го кольца и штрель падает с 0.9 до 0.7Поэтому склоняюсь к мысли об очень плохом качестве объективов.Предполагая, что точка после 40х объектива не превосходит 5мкм можно попробовать рассматривать ее более слабым объективом.
Вот пример оптимизации металлургического план-апохромата на бесконечность, по сферичке: (зафокалы до/после).Картинка после такого стала заметно лучше (появилась классическая диф-картина = объектив вышел на диф. предел)
То же самое приходилось делать.Чем именно оптимизировал?
Чепуха пошла. Имеется сферический волновой фронт, который сходится в фокусе и расходится дальше, формируя при этом 3-х мерную дифракционную картину.
А имеется пятно диаметром 9мкм. , которое почти в 20 раз превышает дифракционный предел микрообъектива.
Торец волокна находится на расстоянии 160 мм от микрообъектива.
Я почему то думал что в переднем фокальном отрезке объектива...То есть у вас объектив вообще работает не в расчетном режиме? Тогда какой смысл проверять его таким способом?
Он не проверяется. Первый МО нужен только для того, чтобы уменьшить точку из волокна так, чтобы она была диффракционной для второго испытуемого объектива.
Сделал короткие ролики (пару десятков сек) для различных микрообъективов.
Еще бы схему эксперимента, для полной картины нарисовать.С размерами и величиной отрезков.
Вряд ли 40х объектив настолько плохой, что создает изображение точки больше диф предела 20х объектива. Тем более, что исходная точка даже меньше, чем я предполагал.Для простой схемы 20х объектива отсутствие покровного стекла чуть добавляет сверички, но не так сильно. Увеличивается интенсивность 1-го кольца и штрель падает с 0.9 до 0.7
Удивляет систематика, сколько сразу плохих объективов.